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產(chǎn)品中心

Product Center
  • KT-Z160T-RL精密氣浮臺(tái)高低溫真空探針臺(tái)

    精密氣浮臺(tái)高低溫真空探針臺(tái),600x600x200mm氣震臺(tái),減震效果達(dá)97%,真空高低溫探針臺(tái),凹視觀察窗,高精度探針滑臺(tái)。

    更新時(shí)間:2024-03-27
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z160T-RL
    瀏覽量:1329
  • KT-Z4019MRL4T小型氣敏探針臺(tái)

    小型氣敏探針臺(tái)KT-Z4019MRL4T,4探針手動(dòng)調(diào)節(jié),純銀加熱臺(tái),-196℃至350℃(溫控精確±0.5)

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z4019MRL4T
    瀏覽量:1420
  • KT-Z4019MRL4T微型高低溫探針臺(tái)

    微型高低溫探針臺(tái)KT-Z4019MRL4T結(jié)構(gòu)緊湊,適用于各種變溫測(cè)試。-196℃~400℃(配液氮致冷模塊)氣密腔室設(shè)計(jì),可通保護(hù)氣氛

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z4019MRL4T
    瀏覽量:1395
  • KT-Z160TZ真空探針臺(tái)

    真空探針臺(tái)KT-Z160TZ,高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測(cè)芯片提供一個(gè)低溫或者高溫的變溫測(cè)量環(huán)境,以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來(lái)的測(cè)試結(jié)果誤差。

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z160TZ
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  • KT-Z1604TZ高溫真空探針臺(tái)

    高溫真空探針臺(tái)KT-Z1604TZ,可單選高溫或低溫等相應(yīng)組件,溫度可達(dá)到400℃。以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來(lái)的測(cè)試結(jié)果誤差。

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604TZ
    瀏覽量:1567
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