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微型高低溫真空探針臺鄭科探高溫400℃ 低-190℃ 微型真空探針冷臺 測試噪聲小于5E-13A 可擴(kuò)展上下雙透視窗口用于光電測試 可擴(kuò)展凹視鏡 用于拉曼光譜測試 探針腔體可達(dá)真空0.1pa(機(jī)械泵) 1E-3Pa(分子泵)可用于光學(xué) 氣敏 濕敏 壓敏材料 電化學(xué)測試
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產(chǎn)品分類品牌 | 鄭科探 | 價格區(qū)間 | 3萬-5萬 |
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自動化度 | 手動 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 | 樣品臺材質(zhì) | 銀銅合金?純銀塊 |
微型高低溫真空探針臺,鄭科探高溫350℃ 低-190℃ 微型真空探針冷臺 測試噪聲小于5E-13A 可擴(kuò)展上下雙透視窗口用于光電測試 可擴(kuò)展凹視鏡 。
微型高低溫真空探針臺,鄭科探高溫400℃ 低-190℃ 微型真空探針冷臺 用于拉曼光譜測試 探針腔體可達(dá)真空0.1pa(機(jī)械泵) 1E-3Pa(分子泵)可用于光學(xué) 氣敏 濕敏 壓敏材料 電化學(xué)測試
真空腔體 | ||
類型 | 高溫型室溫到350℃ | 高低溫型 室溫到350℃ 室溫到-196℃ |
腔體材質(zhì) | 304不銹鋼 6061鋁合金 可選 | |
腔體內(nèi)尺寸 | 127mmX57mmX20mm | |
腔體外尺寸 | 150mmX80mmX32mm | |
腔體重量 | 不銹鋼材質(zhì) 約1.5KG 鋁合金材質(zhì) 約0.5KG | |
腔體上視窗尺寸 | Φ42mm(可選配凹視窗用于減少窗口和樣品之間距離) | |
腔體抽氣口 | KF16法蘭(其余接口規(guī)格可轉(zhuǎn)接) | |
腔體真空測量口 | KF16法蘭(其余接口規(guī)格可轉(zhuǎn)接) | |
腔體進(jìn)氣口 | 6mm快擰 或 6mm快插 | |
腔體冷卻方式 | 腔體水冷+上蓋氣冷 | |
腔體水冷接口 | ||
腔體正壓 | ≤0.05MPa | |
腔體真空度 | 機(jī)械泵≤5Pa (5分鐘) 分子泵≤5E-3Pa(30分鐘) | |
樣品臺 | ||
樣品臺材質(zhì) | 不銹鋼 銀銅合金 純銀塊 | 銀銅合金 純銀塊 |
樣品臺尺寸 | 26x26mm | |
樣品臺加熱方式 | 電阻加熱 | 電阻加熱 液氮制冷 |
樣品臺-視窗 距離 | 11mm(可選配凹視窗用于減少窗口和樣品之間距離到6mm) | |
樣品臺測溫傳感器 | PT100型熱電阻 | |
樣品臺溫度 | 室溫到400℃ | 室溫到350℃ 室溫到-196℃ |
樣品臺測溫誤差 | ±0.5℃ | |
樣品臺升溫速率 | 高溫100℃/min 最大值 低溫7℃/min | |
溫控儀 | ||
溫度顯示 | 7寸人機(jī)界面 | |
溫控類型 | 標(biāo)準(zhǔn)PID溫控 +自整定 | |
溫度分辨率 | 0.1℃ | |
溫控精度 | ±0.5℃ | |
溫度信號輸入類型 | PT100 (可選K S B型熱電偶) | |
溫控輸出 | 直流線性電源加熱 | 直流線性電源加熱+液氮流速控制器 |
輔助功能 | 溫度數(shù)據(jù)采集并導(dǎo)出 實(shí)時溫度曲線+歷史溫度曲線 可擴(kuò)展真空讀數(shù)接口 | |
溫控器尺寸 | 32cmX170cmX380cm | |
溫控器重量 | 約5.6KG | |
探針 | ||
電信號接頭 | 配線轉(zhuǎn)接 BNC接頭 BNC三同軸接頭 SMA 接頭 香蕉插頭 線長1.2米 | |
電學(xué)性能 | 絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質(zhì)耐壓 ≤200V 電流噪聲 ≤10pA | |
探針數(shù)量 | 4探針(可擴(kuò)展5探針) | |
探針材質(zhì) | 鍍金鎢針 (其他材質(zhì)可選) | |
探針尖 | 10μm | |
手動探針移動平臺 | ||
X軸移動行程 | 20mm ±10mm(需手動推動滑臺) | |
X軸控制精度 | ≥500μm | |
R軸移動行程 | 120° ±60°(需手動旋轉(zhuǎn)探針桿) | |
R軸控制精度 | ≥500μm | |
Z軸移動行程 | 2mm ±1mm | |
Z軸控制精度 | ≤50μm(需手動螺紋調(diào)節(jié)探針桿) |
低溫真空探針臺是一種利用液氦/液氮快速制冷并為晶片、器件和材料(薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導(dǎo)材料、鐵電材料等)提供真空和低溫測試條件下進(jìn)行非破壞性的電學(xué)表征和測量平臺。該低溫真空探針臺可以對材料或器件進(jìn)行電學(xué)特性測量、光電特性測量、參數(shù)測量、高阻測量、DC測量、RF測量和微波特性測量。
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